原子吸收的背景校正之塞曼效應(yīng)校正背景

原子吸收的背景校正之塞曼效應(yīng)校正背景

該法是1969 年由M . Prugger 和R . Torge 提出來的。塞曼效應(yīng)校正背景是基于光的偏振特性。目前在商品儀器中應(yīng)用的吸收線調(diào)制法，調(diào)制方式有恒定磁場與可變磁場調(diào)制方式兩種。
　　恒定磁場調(diào)制方式是在原子化器上垂直于光束方向施加一恒定磁場，在磁場的作用下，分析線分裂為π與σ_± 組分，前者與分析線的波長相同，平行于磁場方向，后者偏離分析線的波長，垂直于磁場方向。光源發(fā)射線經(jīng)過起偏器后變?yōu)槠�振光。隨著起偏器的旋轉(zhuǎn)，平行與垂直于磁場方向的偏振光交替地通過原子化器，當(dāng)平行于磁場方向的偏振光通過原子化器時，π與σ_±組分都產(chǎn)生吸收，測得原子吸收與背景吸收的總吸光度；當(dāng)垂直于磁楊方向的偏振光通過原子化器時，由于偏振方向不同，不為π組分吸收，測得分析線波長處的背景吸收的吸光度。兩次測得的吸光度值相減，便得到校正了背景吸收后的分析線的吸光度值。轉(zhuǎn)速計| 水份計| 水份儀| 分析儀| 溶氧計| 電導(dǎo)度計| PH計| 酸堿計| 糖度計| 鹽度計| 酸堿度計| 電導(dǎo)計|
　　可變磁場調(diào)制方式是在原子化器上垂直于光束方向施加一電磁鐵，它僅在原子化階段被激磁。偏振器是固定的，其作用是去掉平行于磁場方向的π組分，只讓垂直于磁場方向的σ_±組分通過原子化器。在零磁場時，測得原子吸收與背景吸收的總吸光度，激磁時，只測得背景吸收的吸光度，兩次測得的吸光度值相減，便得到校正了背景吸收后的分析線的吸光度值。

　　塞曼效應(yīng)校正背景可以校正吸光度高達1.5～2.0的背景，能校正精細結(jié)構(gòu)與光譜干擾引起的背景吸收。缺點是，由于π組分吸收曲線的彎曲程度大于σ_±組分吸收曲線的彎曲程度，故在高濃度測定時，工作曲線出現(xiàn)返轉(zhuǎn)，產(chǎn)生雙值曲線。光路中存在偏振器，光能量有損失，影響測定靈敏度。為了克服這一缺點，Perkin-Elmer 公司突破傳統(tǒng)的橫向塞曼效應(yīng)加偏振器校正背景的設(shè)計，開發(fā)了采用縱向交流塞曼效應(yīng)校正背景與橫向加熱的新型原子吸收分光光度計，縱向磁場方向與光速平行，不存在π組分，無需偏振器，增大了光通量，當(dāng)有磁場時，只測得背景吸收�？v向與橫向塞曼效應(yīng)校正背景的原理示意圖，如下圖所示。