單晶X衍射分析方法概述

當前位置:首頁 >> 儀器儀表技術文章

單晶X衍射分析方法概述

單晶X射線衍射分析法主要用于晶體結構測定。晶體結構測定的最后結果是獲取晶胞的空間群、晶胞常數和一套晶胞中每個原子位置的參數,并用結構模型圖顯示。從結構分析結果看,可以很容易得到鍵長、鍵角、配位數等晶體化學數據。利用單晶衍射分析獲得的高分辨電子密度分布圖還可以進一步研究結構中價電子的分布、原子或離子的大小、鍵型等等。測厚儀| 測速儀| 轉速表| 壓力表| 壓力計| 真空表| 硬度計| 探傷儀| 電子稱| 熱像儀

  X射線的特點:是其波長正好與物質的微觀結構中的原子、離子鍵的距離相當,所以它能很有效的被晶體衍射。晶態(tài)物質的X射線衍射圖是分析物質微觀結構的最有效的方法。

 

發(fā)布人:2010/12/20 9:55:001134 發(fā)布時間:2010/12/20 9:55:00 此新聞已被瀏覽:1134次