直流電源的功能測試和電源的保護(hù)測試 直流電源是一種將交流電源轉(zhuǎn)換成所需直流V/A/W規(guī)格的裝置。一個良好的電源必須可靠、符合所有功能規(guī)格、保護(hù)特性、安全規(guī)范及電磁兼容能力等。本文主要討論電源的功能規(guī)格及保護(hù)特性的測試。
一、電源的功能測試 1
.輸出電壓調(diào)整 制造開關(guān)電源時,第一個測試步驟為將輸出電壓調(diào)整至規(guī)格范圍內(nèi)。此步驟完成后才能確保后續(xù)的規(guī)格能夠符合。
通常,做輸出電壓調(diào)整時,將輸進(jìn)交流電壓設(shè)定為正常值(115Vac或230Vac),并且將輸出電流設(shè)定為正常值或滿載電流,然后用數(shù)字電壓表丈量電源的輸出電壓值并調(diào)整其電位器(VR)直到電壓讀數(shù)在要求范圍內(nèi)。
電阻計|
電表|
鉗表|
高斯計|
電磁場測試儀|
電源供應(yīng)器|
電能質(zhì)量分析儀|
多功能測試儀|
電容表|
電力分析儀 2.
電源調(diào)整率 電源調(diào)整率的定義為電源在輸進(jìn)電壓變化時提供穩(wěn)定輸出電壓的能力。為精確丈量電源調(diào)整率,需要下列的設(shè)備:
A.能提供可變電壓能力的電源,至少能提供待測電源的最低到最高的輸進(jìn)電壓范圍。
B.一個均方根值交流電壓表用來丈量輸進(jìn)電源電壓。
C.一個精密直流電壓表,具備至少高于待測物調(diào)整率十倍以上。
D.連接到待測電源輸出真?zhèn)可變負(fù)載。
測試步驟如下,待測電源在正常輸進(jìn)電壓和負(fù)載情況下熱機(jī)穩(wěn)定后,分別于Min(低)Nomal(通常),和Max(高)輸進(jìn)電壓下丈量并記錄其輸出電壓值。電源調(diào)整率通常在一正常之固定負(fù)載(NommalLoad)下,看具輸進(jìn)電壓變化所造成電源輸出電壓偏差率(deviation)的百分比。
3.
負(fù)載調(diào)整率 負(fù)載調(diào)整率的定義為電源在輸出負(fù)載電流變化時,其提供穩(wěn)定輸出電壓的能力! ∷璧脑O(shè)備和連接方式與測電源調(diào)整率相似,唯一不同的是需要精密的
電流表和與待測電源的輸出串聯(lián)。
測試步驟如下:待測電源在正常輸進(jìn)電壓及負(fù)載情況下熱機(jī)穩(wěn)定后,丈量正常負(fù)載下的輸出電壓值,再分別于低(Min)、高(Max)負(fù)載下,丈量并記錄其輸出電壓值(分別為Vmax與Vmin)。負(fù)載調(diào)整率通常以正常的固定輸進(jìn)電壓下,由負(fù)載電流變化所造成電源輸出電壓偏差率的百分比。
4.
綜合調(diào)整率 綜合調(diào)整率的定義為電源在輸進(jìn)電壓與輸出負(fù)載電流變化時,其提供穩(wěn)定輸出電壓的能力。這是電源調(diào)整率與負(fù)載調(diào)整率的綜合,此項測試可提供對電源在改變輸進(jìn)電壓與負(fù)載狀況下更正確的性能驗證。
5.
輸出雜音(PARD)
輸出雜音(PARD)則是指在輸進(jìn)電壓與輸出負(fù)載電流均不變的情況下,電源均勻直流輸出電壓上的周期性與隨機(jī)性偏差量的電壓值。通常以mVp-p峰對峰值電壓來表示,一般的開關(guān)電源的規(guī)格均以小于輸出直流輸出電壓的1%為輸出雜音的規(guī)格,其頻寬為20Hz到50Hz。例如5V輸出,其輸出雜音要求為50mV以內(nèi)。
輸出雜音是表示在經(jīng)過穩(wěn)壓及濾波后的直流輸出電壓上所有不需要的交流及雜音部分! ≡谡闪枯敵鲭s音時,電予負(fù)載必須具備比待測電源更低的PARD值,同時丈量電路必須有良好的隔離處理及阻抗匹配,為避免導(dǎo)線上產(chǎn)生不必要的振鈴和駐波,一般都采用雙同軸電纜并以50Ω串在其端點上。
6.
輸進(jìn)功率與效率 電源的輸進(jìn)功率即一周期內(nèi)電源輸進(jìn)電壓與電流乘積的積分值,需留意的是Watt≠Vrms而是Watt=Vrms×P.F.其中R.E.為功率因數(shù)(PowerFactor),通常電源的功率因數(shù)在0.6-0.7左右,而大功率的電源具備功率因數(shù)
校正器,其功率因數(shù)通常大于0.95,當(dāng)輸進(jìn)電流波形與電壓波形完全相同時,功率因數(shù)為1,并依電流與電壓的波形不相同的程度,其功率因數(shù)為14之間。
輸出直流功率的總和與輸進(jìn)功率的比例。通常計算機(jī)用電源的效率為60~70%左右。效率可提供對電源正確工作的驗證,若效率超過規(guī)定范圍,即表示設(shè)計或零件材料上有題目出現(xiàn),效率太低時,會導(dǎo)致散熱增加而影響電源使用壽命。
測試時可使用4010/4011來丈量待測電源的輸進(jìn)功率與功率因數(shù);使用3310/3320系列負(fù)載模擬并丈量其每個輸出電壓、電流與功率經(jīng)汁算后便可得到效率。當(dāng)使用3600A 時,能夠丈量輸進(jìn)及輸出功率并自動計算出效率,并可設(shè)定上下限,做為合格與否的判別。
7.
動態(tài)負(fù)載或暫態(tài)負(fù)載 一個定電壓輸出的電源,在設(shè)計中應(yīng)具備反饋回路,能夠?qū)⑵漭敵鲭妷哼B續(xù)不斷地維持穩(wěn)定的輸出電壓。由于實際上反饋回路有一定的頻寬,因此限制了電源對負(fù)載電流變化時的反應(yīng)。若反饋回路輸進(jìn)與輸出的相移在增益(UNITYGAIN)為1時超過180度,電源便會呈現(xiàn)不穩(wěn)定、失控及振蕩現(xiàn)象。
實際工作時的負(fù)載電流也是動態(tài)變化的而不是始終維持不變(例如硬盤、軟驅(qū)、CPU或RAM動作等),因此動態(tài)負(fù)載測試對電源而言是極為重要的。電子負(fù)載可用來模擬電源實現(xiàn)工作時的最惡劣的負(fù)載情況,如負(fù)載電流迅速上升、下降的斜率、周期等。若電源在惡劣負(fù)載狀況下,仍能夠維持穩(wěn)定的輸出電壓不產(chǎn)生過高(OVERSHOOT)或過低(UNDERSHOOT)情形,則通過此項測試。
8.
電源良好/失效信號 電源良好信號,簡稱PGS(POWERGOODSIGNAL),是電源送往計算機(jī)系統(tǒng)的信號,當(dāng)電源輸出電壓穩(wěn)定后,通知計算機(jī)系統(tǒng),以便做開機(jī)程序。而電源失效信號(POWERFAIL)是電源表示輸出電壓尚未達(dá)到或下降超過某一正常工作情況。以上通常由PGS信號來表示,由邏輯的改變來表示,邏輯為“ 1”或“High”時表示電源良好(Power Good),而邏輯為“ 0” 或“Low”時,表示為電源失效(PowerFail)。
電源的電源良好時間為從輸出電壓穩(wěn)定到PGS信號由“ 0” 變?yōu)椤?nbsp;1”的時間,一般值為100ms到200ms之間,電源的電源失效時間為從PUS信號由“ 1” 變?yōu)椤?nbsp;0”時到輸出電壓低于穩(wěn)定范圍的時間,一般值為1ms以上。
9.
啟動時間(SET-UPTIME)與保持時間(HOLD-UP TIME) 啟動時間為電源從輸進(jìn)接上電源起到電源輸出電壓;上升到穩(wěn)壓范圍內(nèi)為止的時間,以一輸出為5V的電源為例,啟動時間為從開機(jī)起到輸出電壓達(dá)到4.75V為止的時間。
保持時間為電源從輸進(jìn)切斷電源起到電源輸出電壓下降到穩(wěn)壓范圍外為止的時間,以一輸出為5V的電源為例,保持時間為從關(guān)機(jī)起到輸出電壓低于4.75萬V為止的時間,一般值為17ms以上。
二、
電源的保護(hù)測試 1.
過電壓保護(hù)(OVP)測試 當(dāng)電源的輸出電壓超過其最大的限定電壓時,電源會將其輸出封閉(SHUTDOWN),稱為過電壓保護(hù)。
過電壓保護(hù)測試用來驗證電源在出現(xiàn)上述異常情況時,能否正確地反應(yīng)。過電壓保護(hù)功能對于一些對電壓敏感的負(fù)載特別重要,如CPU、存儲器、邏輯電路等,由于這些珍貴元件若因工作電壓太高,超過其額定值時,會導(dǎo)致永久性的損壞,因而損失慘重。
2.
過電流保護(hù)(OCP)測試 當(dāng)電源的輸出電流超過額定值時,則電源應(yīng)該限制其輸出電流或封閉其輸出,以避免負(fù)載電流過大而損壞。假如電源的內(nèi)部零件損壞而造成較正常值大的負(fù)載電流時,則電源也應(yīng)該封閉其輸出,以避免損壞。
過電流保護(hù)測試是驗證當(dāng)上述任一種情況發(fā)生時電源能否正確地反應(yīng)。輸出過電流情況,測試時,負(fù)載電流可以預(yù)先設(shè)定。負(fù)載電流值開始上升,直到電源的輸出電壓低于所設(shè)定的臨界電壓值為止。
3.
短路保護(hù)測試 當(dāng)電源的輸出短路時,則電源應(yīng)該限制其輸出電流或封閉其輸出,以避免損壞,短路保護(hù)測試是驗證輸出短路時,電源能否正確地反應(yīng)。