超聲波測(cè)厚的基本概述

(二)脈沖反射式測(cè)厚儀電路概述脈沖反射式測(cè)厚儀電路主要是由于主控器、發(fā)射電路、接收放大電路、計(jì)算電路、厚度顯示等幾部分組成。下面就其中幾個(gè)主要部分討論如下。
1、發(fā)射電路該電路是經(jīng)主控器發(fā)出的脈沖觸發(fā)后，產(chǎn)生一窄的發(fā)射脈沖信號(hào)，使換能器(探頭)發(fā)射超聲脈沖。從提高分辨能力和降低測(cè)厚儀范圍的下限考慮，發(fā)射脈動(dòng)沖要上升時(shí)間短，脈沖寬度窄，這里需要指出。影響發(fā)射脈沖寬度的因素既有電路上的問(wèn)題，也有探頭的制作問(wèn)題。從提高靈敏度和擴(kuò)大測(cè)量范圍上限考慮，要求發(fā)射功率大。目前脈沖式超聲波測(cè)厚儀均采用晶體管電路和集成電路，為了提高發(fā)射強(qiáng)度，需將幾伏電源電壓通過(guò)直流變換器升到幾十伏至幾百伏的電壓，供給發(fā)射管，借以提高發(fā)射強(qiáng)度。

(三)測(cè)厚儀的使用及注意事項(xiàng)首先是選擇探頭。
測(cè)厚用探頭一般要根據(jù)測(cè)厚范圍，測(cè)量精度和工件條件來(lái)選擇。雙晶片探頭比較好，它的測(cè)量范圍較寬，下限較低。測(cè)厚時(shí)被測(cè)工件的表面處理與探傷時(shí)的要求相同。對(duì)粗糙表面測(cè)厚，要求打磨的面積不大，關(guān)鍵在于平整。藕合劑選用也同探傷時(shí)一樣，對(duì)小徑管管壁和堅(jiān)立的壁等的測(cè)厚，采用甘油或水玻璃為宜。
測(cè)量時(shí)，為避免耦合劑薄膜的多次反射或其他雜波信號(hào)引起的假讀數(shù)，一定要指示穩(wěn)定且能重復(fù)呈現(xiàn)后再讀取數(shù)據(jù)。假讀數(shù)在絕大多數(shù)情況中指示是不穩(wěn)定的。使用雙晶探頭時(shí)，對(duì)于一般無(wú)方向性問(wèn)題的工件。探頭放置方向無(wú)關(guān)，并且每個(gè)測(cè)點(diǎn)測(cè)一次即可。對(duì)于管道測(cè)厚，探頭的放置方向要使其隔聲層垂直于管道軸線，對(duì)于其他與探頭放置方向有關(guān)的測(cè)厚，各測(cè)點(diǎn)應(yīng)測(cè)量二次(先測(cè)一次，然后將探頭旋轉(zhuǎn)90°再測(cè)一次)，并做好標(biāo)記和記錄。測(cè)量管材，尤其是測(cè)小徑管時(shí)，要細(xì)心左右擺動(dòng)探頭，使其與管壁正交，這樣才能獲得穩(wěn)定準(zhǔn)確的厚度指示。如儀器工作正常，但測(cè)不出厚度時(shí)，首先要檢查工件光潔度是否合格。耦合劑好不好，光潔度不夠再打磨一下，耦合劑太稀，應(yīng)換粘度大一些的。如果仍然測(cè)不出來(lái)，這可能是內(nèi)部腐蝕嚴(yán)重引起的，可把探頭稍移動(dòng)一點(diǎn)再測(cè)。測(cè)厚中要注意成倍讀數(shù)或缺陷反射兩種情況，當(dāng)讀數(shù)與預(yù)想值相差很多時(shí)，應(yīng)該分析是什么原因引起的，看是出現(xiàn)了成倍讀數(shù)(讀數(shù)過(guò)大)還是缺陷反射(讀數(shù)過(guò)小)；這時(shí)如有其他種類測(cè)厚儀或探傷儀，應(yīng)輔助測(cè)量一下，辨明原因。
對(duì)運(yùn)行中高溫工件的測(cè)量，要使用高溫探頭和特殊的耦合劑。通常管道中沉積物的聲阻抗與管材的聲阻抗相差很大，所以對(duì)厚度測(cè)量沒(méi)有影響。但在個(gè)別情況下，如煉油廠中提煉含硫量較高的天然石油時(shí)，管道和容器里形成一種劇鐵鹽沉積物，其聲阻抗與鋼的聲阻抗相近，這時(shí)測(cè)得的壁厚有可能是管壁厚與沉積物厚度之和。所以測(cè)量時(shí)要特別小心，