新型成像技術(shù)顯示單個(gè)的硼原子

新型成像技術(shù)顯示單個(gè)的硼原子

采用像差校正電子顯微技術(shù)的最新成果，美國能源部橡樹嶺國家實(shí)驗(yàn)室的研究人員與他們的同事已經(jīng)得到了首批可以辨別硼原子、碳原子、氮原子及氧原子等單個(gè)輕原子的圖像。材料科學(xué)與技術(shù)部門的研究人員斯蒂芬·潘尼庫克說：“該研究標(biāo)志著首次實(shí)現(xiàn)了對一種非周期材料中大部分原子進(jìn)行成像與化學(xué)識(shí)別�！�

新型成像技術(shù)使材料學(xué)研究人員可以通過對試驗(yàn)材料的每種原子進(jìn)行逐一分析來研究其分子結(jié)構(gòu)，并發(fā)現(xiàn)這些材料中的結(jié)構(gòu)缺陷，其中有些缺陷是在試圖改變材料性能的過程中形成的。環(huán)形暗場分析實(shí)驗(yàn)在一臺(tái)經(jīng)過優(yōu)化處理的100kV的Nion牌UltraSTEM型顯微鏡下進(jìn)行，優(yōu)化后的顯微鏡適用于60kV的較低電壓。像差校正技術(shù)的設(shè)想最早出現(xiàn)于幾十年前，但直到最近該技術(shù)才借助計(jì)算領(lǐng)域的進(jìn)展而得以實(shí)現(xiàn)。該技術(shù)的研究團(tuán)隊(duì)除潘尼庫克與同事馬修·齊斯蒙之外，還有來自范德比爾特(Vanderbilt)大學(xué)、牛津大學(xué)及Nion公司（位于華盛頓州Kirkland市）的人員加盟，本研究中的顯微鏡就是由Nion公司設(shè)計(jì)并建造的。《自然》雜志上發(fā)表了一篇介紹該團(tuán)隊(duì)相關(guān)研究的文章。