電子能譜儀的分類和應(yīng)用
隨著激發(fā)源及研究的二次電子來(lái)源的不同,電子能譜儀可分為:
。1)X光電子能譜儀(XPS)。以X射線為激發(fā)源,獲得內(nèi)、外層光電子能譜。對(duì)檢測(cè)輕、重元素均相當(dāng)有效;
。2)紫外光電子能譜儀(UPS)。以紫外光線為激發(fā)源,由于紫外光能量低,射線寬度窄,因此對(duì)激發(fā)價(jià)電子層電子靈敏度強(qiáng),分辨力高,能獲得直接反映分子特征的價(jià)電子層電子能譜;
。3)俄歇(Auger)電子能譜儀(AES)。用電子射線松為激發(fā)源,研究俄歇電子獲得的能譜,它與X熒光儀相比,對(duì)檢測(cè)原子序數(shù)小于33以下的輕元素有較高的靈敏度。在表面物化分析、分子結(jié)構(gòu)鑒定、催化劑研究、新材料研究,以及物理學(xué)、理子化學(xué)基礎(chǔ)理論研究等領(lǐng)域中,應(yīng)用日益廣泛。
應(yīng)用:電子能譜目前主要應(yīng)用于催化、金屬腐蝕、粘合、電極過程和半導(dǎo)體材料與器件等這樣一些極有應(yīng)用價(jià)值的領(lǐng)域,探索固體表面的組成、形貌、結(jié)構(gòu)、化學(xué)狀態(tài)、電子結(jié)構(gòu)和表面鍵合等信息。隨著時(shí)間的推移,電子能譜的應(yīng)用范圍和程度將會(huì)越來(lái)越廣泛,越來(lái)越深入。
UPS主要用于提供: