開關(guān)電源-壽命評估
第1節(jié) 開關(guān)電源-壽命評估
1 電源的壽命的定義和期望壽命
眾所周知,電子產(chǎn)品的故障如Bath-tub Curve (圖1,)所示,分為以下三種類型。
① 減少型(DFR;Decreasing Failure Rate)
初期,帶有缺陷的部分會發(fā)生故障,但隨著時間的推移,剩下的都是穩(wěn)定的部件,故障率亦會下降。這段時間稱為初期故障期。
② 一定型(CFR; Constant Failure Rate)
此時,機器運行穩(wěn)定,故障率降至一定水平,發(fā)生的故障均為隨機性事件,稱為偶發(fā)性故障期。這段時期的穩(wěn)定度和平均故障時間(MTBF)呈指數(shù)式分布。
③ 增加型(IFR;Increasing Failure Rate)
故障率逐漸上升。故障發(fā)生原因為磨損。多見于風(fēng)扇電動機的球形軸承及繼電器的驅(qū)動部位等處。這種類型的故障具有集中某處發(fā)生的特征,一般從初期開始即呈正態(tài)分布。
因此,可以說壽命就是指機器故障率保持不變的穩(wěn)定運行時期,也就是偶發(fā)故障期。
用戶對電源的最低壽命的要求各不相同,一般最好考慮為7~10年。然而,機器的運行時間因機而異,所以應(yīng)明確限定期望壽命,并檢測設(shè)計是否符合壽命標(biāo)準(zhǔn)。
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表1中列舉了幾種主要電器的最短壽命。
它們是在設(shè)定完全使用時間為7年的前提下,根據(jù)各種電器的運行狀況推算出來的數(shù)據(jù)。
用途 |
必 要 壽 命 |
時間 |
負(fù)荷比 |
時間計算 |
printer |
額定負(fù)荷 4.200H |
1 |
最大額定負(fù)荷 8-2H/天
最小額定負(fù)荷 2H/天
使用天數(shù) 300天/年
最大額定負(fù)荷壽命。禜/天×300天/年×7年=12.600H
最小額定負(fù)荷壽命 2H/天×300天/年×7年=4.200H |
最大額定負(fù)荷12.600H |
1 |
PC |
額定負(fù)荷 |
1 |
使用 8H/天
壽命 8H/天×300天/年×7年=16,800H |
PPC |
額定負(fù)荷 556H |
1 |
PCB個數(shù) 500,000個/壽命
最小負(fù)荷時間 500,000個×分/個×(H/分)=556H
最大額定負(fù)荷。8H/天×300天×7年)-556H=16.244H |
最小額定負(fù)荷 16.244H |
0.05
0.2 |
FAX |
額定負(fù)荷 5.500H |
1 |
最小額定負(fù)荷 2H/天×365天/年×7年=5.110H
最大額定負(fù)荷 (24H/天×365天/年×7年)-5.110H=56.210H |
最小額定負(fù)荷 |
0.1 |
2 電源裝置的壽命評估
電源裝置因為處理電流的緣故,所用部件受到的電應(yīng)力大,發(fā)熱量高,機器內(nèi)部溫度上升快,所以壽命評估工作尤顯重要。機器的壽命基本上和使用部件的壽命掛鉤。部件壽命與熱、電應(yīng)力成函數(shù)關(guān)系,其中更以熱應(yīng)力為主。
從機器壽命設(shè)計的觀點來看,如果將所有部件的壽命統(tǒng)一,則能達(dá)到理想的最優(yōu)性價比,但部件的壽命性能(影響部件壽命的電力、環(huán)境特征)相差巨大,因而難以實現(xiàn)。一般來說,盡可能降低短壽部件的應(yīng)力,并極限化使用長壽部件,可以實現(xiàn)部件壽命的平均化。
電阻類、陶瓷電容器和薄膜電容器等半導(dǎo)體部件不接觸強應(yīng)力,壽命極長,因而可以說下面舉出的部件的壽命才真正決定了電源的壽命。
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3 決定壽命的主要部件
① 電解電容器
電解電容器的封口部位會漏出氣化的電解液,這種現(xiàn)象會隨著溫度的升高而加速,一般認(rèn)為溫度每上升10℃,泄漏速度會提高至2倍。因此可以說電解電容器決定了電源裝置的壽命。
② 開關(guān)晶體管、高速功率二極管
此類部件在性能界限內(nèi)使用時,基本上可以維持7~10年的壽命,但電源通斷(能量循環(huán))時產(chǎn)生的物理應(yīng)力、熱應(yīng)力會導(dǎo)致元件劣化,提前損壞。
③ 風(fēng)扇
球形軸承及軸承的潤滑油枯竭、機械裝置部件的磨損,會加速風(fēng)扇的老化。加之近年的DC風(fēng)扇的驅(qū)動回路開始使用電解電容器等部件,所以有必要將回路部件壽命等因素也一并考慮進(jìn)去。
④ 光電耦合器
電流傳達(dá)率(CTR;Current Transfer Ratio)隨著時間的推移會逐漸減少,結(jié)果發(fā)光二極管的電流不斷增大,有時會達(dá)到最大限制電流,致使系統(tǒng)失控。
⑤ 開關(guān)
多數(shù)開關(guān)電源設(shè)有電容器輸入型的整流回路,在通入電源時,會產(chǎn)生浪涌電流,導(dǎo)致開關(guān)接點疲勞,引發(fā)接觸電阻增大及吸附等問題。理論上認(rèn)為,在電源期望壽命期間,開關(guān)的通斷次數(shù)約有5,000回。
⑥沖擊電流保護(hù)電阻、熱敏功率電阻器
為抵抗電源通入時產(chǎn)生的沖擊電流,設(shè)計者將電阻與SCR等元件并聯(lián)起來使用。電源通入時的電力峰值高達(dá)額定數(shù)值的數(shù)十倍至數(shù)百倍,結(jié)果導(dǎo)致電阻熱疲勞,引起斷路。處在相同情況下的熱敏功率電阻器也會發(fā)生熱疲勞現(xiàn)象。
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4 壽命測試
4.1 壽命測試的意義
為保證裝置的壽命,可以從構(gòu)成裝置的部件及材料的壽命來推算裝置總體的壽命,從而代替了對裝置本身的壽命測試,然而,推測畢竟只是推測,要想真正保障壽命,就必須切實搞好測試工作。另一方面,電源機器是整個裝置的心臟部位,與其他部分相比,要求有更高的穩(wěn)定性。通過統(tǒng)計來確定產(chǎn)品的耐用壽命,本是很普通的工作,但在這里,測試所耗費的樣品、時間和費用等成本頗為可觀。要解決這個難題,可以考慮采用以下三種方法:
① 依據(jù)儲存數(shù)據(jù)和過去的實際經(jīng)驗,挑出短壽部件,對其進(jìn)行專門的壽命測試,從而推算出整個電源裝置的壽命。
② 嚴(yán)格限制故障標(biāo)準(zhǔn),從嚴(yán)判定故障。
③ 提高測試時的應(yīng)力值,或者增加重復(fù)電源通斷的次數(shù)。在易出故障的條件下,縮短檢測時間,從嚴(yán)判定故障。
第①條要求操作者充分把握部件的使用狀態(tài),因為萬一個別部件所受的應(yīng)力超過預(yù)計,則有可能導(dǎo)致判斷失誤。需要注意的是:設(shè)計電源裝置時必須考慮到所有部分的耐用壽命和穩(wěn)定性,所以這種壽命測試不僅可以推算出機器的耐用壽命,更可以有效排除制造商方面的設(shè)計失誤及漏洞。電源機器的設(shè)計也要考慮到用戶的使用條件,但是因為用戶未必都能充分把握有關(guān)規(guī)格要求,所以測試包括電源裝置在內(nèi)的機器總體的壽命是很有效的手段。這種做法也有利于用戶方面對制造商進(jìn)行比較,增強廠家競爭力。
4.2 故障類型與故障構(gòu)成
有關(guān)壽命的故障類型是指部件故障的外在表現(xiàn),例如電源裝置中出現(xiàn)的輸出值下降,輸出電壓異常上升等問題。這些類型是部件的故障類型中的短路、開路和特性值改變引起的表現(xiàn)。
故障構(gòu)成在這里是指引發(fā)個別部件的故障的理論模型,也就是說從材料化學(xué)、原子分子的層面上看,部件發(fā)生故障的原因是什么。關(guān)于故障構(gòu)成的知識將會在下文中就不同部件詳細(xì)說明。
要想研究壽命測試的方法,必須先將故障類型與故障構(gòu)成的相互關(guān)系理清。圖2標(biāo)明了二者間的關(guān)系。
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4.3 加速壽命測試
壽命測試需要大量樣品和很多時間,故而一般采用加速壽命測試法。
4.3.1 加速要求
壽命加速的允許范圍是指能夠保證隨著應(yīng)力的增強,故障結(jié)構(gòu)不變,而特性值變化的形式、故障時間的分布、平均壽命和故障率等發(fā)生規(guī)則變化的條件。應(yīng)力如果過強,則會導(dǎo)致其它的劣化現(xiàn)象,所以應(yīng)留意應(yīng)力值的設(shè)定。
4.3.2 劣化反應(yīng)與加速系數(shù)
部件及材料的特性值會隨著基本物質(zhì)的擴(kuò)散、氧化和再結(jié)晶等反應(yīng)而發(fā)生劣化。
設(shè)特性值為φ,反應(yīng)速度為K,K與φ的關(guān)系如下:
df(φ)/dt=K (1)
因此,f(φ)=Kt (2)
假設(shè)特性值 φ達(dá)到故障標(biāo)準(zhǔn)a時,壽命L就將結(jié)束。
則由(2)可得
f(a)=K·L
壽命的加速系數(shù)AL為
AL= LN/L = K/KN (3)
LN 、KN各為基準(zhǔn)值
另,根據(jù)阿列里烏斯推論,加速系數(shù)為
AL≒2⊿T/θT (4)
但,⊿T = T – TN
θT=T – TN
θr=(T·TN LN2)/B
B:相應(yīng)的活性化能源除以玻耳茲曼常數(shù)所得的特殊常數(shù)。
(注:玻耳茲曼常數(shù)為1.3709×10-10 爾格/絕對溫度。)
TN:標(biāo)準(zhǔn)溫度。
一般電器的θr值基本上為10℃左右,所以(4)式被稱為10℃2倍定律,但這種關(guān)系式并非總是能夠成立。電子部件在接近常溫時,每上升10℃,壽命約減少至2/3~1/2。
4.3.3 故障構(gòu)成與壽命測試
壽命測試的內(nèi)容依據(jù)故障構(gòu)成來設(shè)定。如圖3所示,由5種測試組成。
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4.3.4 高溫斷續(xù)測試的要求
諸如繼電器、開關(guān)和電扇等機械性部件,以及功率晶體管,功率二極管等部件的升溫現(xiàn)象很嚴(yán)重,因而有必要進(jìn)行高溫斷續(xù)測試。通過切斷和通入輸入電源,使元件反復(fù)進(jìn)行升溫和冷卻的周期循環(huán),從而測得元件對熱疲勞的耐力。實際操作時需要重復(fù)循環(huán) 5,000~10,000次。
環(huán)境溫度:50~80℃
斷續(xù)循環(huán): 5,000~10,000次
檢測項目:逐次檢測元件的一般性能.
本測試亦可與高溫連續(xù)測試組合使用。
4.3.5 高溫連續(xù)壽命測試的要求
環(huán)境溫度:50~80℃
連續(xù)通電時間: 1,000~3,000小時
檢測項目:一般性能(輸入電壓變化、輸出電流變化、脈動電壓和輸出電壓偏差)
不同的機器所要求的環(huán)境溫度及連續(xù)通電時間也不盡相同,一般按照下面的方法求出。假定電源裝置的機器外部環(huán)境溫度平均為25℃,考慮到機器內(nèi)部的升溫因素,電源周圍的溫度比機器外部約高10~15℃,即35~40℃。當(dāng)然,特殊用途的電源不在此限。
電源的期望壽命平均為40,000小時,由阿列里烏斯公式可得LN=40,000H,TN=35℃,θr=10℃,代入第(3)、(4)式中可得下式:
L=40,000·2-(T-35)/10 (5)
設(shè)定環(huán)境溫度前,有必要了解裝置的溫度上限?刹捎盟^的淘汰測試法,逐級提高溫度直至測試對象報廢,從而測得對象的耐溫上限。電源機器的極限溫度為70~90℃,如果能將環(huán)境溫度提高到此種程度,則可以加快機器壽命的終結(jié)。此外,電解電容器是最脆弱的部件,因而有必要事先獲悉其壽命值,并且在進(jìn)行測試時,確保基本上不超過其溫度上限。
例如,設(shè)T=75℃,則由(5)式可得L=2,500小時。
4.3.6 高溫高濕測試
針對金屬部件的腐蝕、塑料部件的分解等造成的機械強度和絕緣耐力下降等故障,宜進(jìn)行高溫高濕測試。要求如下:
環(huán)境溫度:40~50℃
相對濕度:90~95%
放置時間:96小時(通電或不通電)
檢測項目:按上述要求放置后,取出放置在常溫常濕下30分鐘,進(jìn)行一般性能、振動測試、絕緣耐力測試和外觀檢查。
4.3.7溫度循環(huán)測試
環(huán)境溫度的高低差產(chǎn)生季節(jié)裂紋等變溫性應(yīng)力,從而導(dǎo)致焊接、塑模部件發(fā)生故障。進(jìn)行本測試即是為了檢測出這種故障是否存在。要求如下:
環(huán)境溫度:高溫 50~60℃
常溫 25℃
低溫 -5~-10℃
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將測試用電源放入上述三個恒溫箱中各5~10小時,重復(fù)高溫—常溫—低溫—常溫—高溫的循環(huán)30~50次。
檢測項目:一般性能、振動測試和外觀檢查。
5 部件的壽命評估
5.1 電解電容器
① 壽命性能
電解電容器的壽命結(jié)束形式為磨損故障,決定壽命的主要因素為靜電容量、損失角的正切(tanδ)、漏電流等。隨著時間的推移,靜電容量減少,tanδ增大。漏電流在外加電壓時有增加的趨勢,所以對負(fù)荷的壽命影響不大。
② 壽命的判定
用百分比來表示靜電容量相對于起始值的變化率,一般達(dá)到-20%以下時即告壽命結(jié)束。tanδ的值在超過規(guī)定值時壽命結(jié)束。漏電流在零負(fù)荷的情況下有增加的趨勢,同理,在超過規(guī)定值時壽命結(jié)束。
③ 影響壽命的主要原因
前面講到的特性之所以會產(chǎn)生劣化,其主要原因在于電解液。隨著溫度的上升,電解液氣化,經(jīng)電容器的封口部位向外泄漏,內(nèi)部的電解液不斷減少。隨著電解液量的減少,tanδ會逐漸增大,結(jié)果,脈沖電流經(jīng)由時產(chǎn)生的發(fā)熱量增大,又進(jìn)一步加快了劣化過程。這種關(guān)系如圖4、圖5所示。
④ 壽命的推算
鋁電解電容器的近似壽命可以由環(huán)境溫度與脈沖電流引起的自發(fā)熱溫度中推得。下面的式子表現(xiàn)了壽命與環(huán)境溫度之間的關(guān)系。
(6)
在這里,L1=溫度T1時的壽命
L2=溫度T2時的壽命
T1=最高保證溫度或測試溫度+脈沖發(fā)熱溫度
T2=推算壽命時的環(huán)境溫度+脈沖發(fā)熱溫度
要求 T1 > T2
測定脈沖發(fā)熱的升溫值時,需避開其它熱輻射。另外,小型電解電容器受熱極易升溫,最好進(jìn)行表面溫度實測。
5.2 光電耦合器
GaAs系的紅外發(fā)光二極管多使用光電耦合器。這種發(fā)光二極管的發(fā)光效率的退化會導(dǎo)致CTR(電流傳達(dá)率)下降,其它的CTR劣化形式還有芯片面的光結(jié)合樹脂剝離。溫度越高,P8
CTR的下降也越快。同時,二極管電流越大,CTR下降也越快。圖6、圖7標(biāo)明了這些因素間的關(guān)系。
CTR降至起始值的50%所耗的時間稱為半衰期。電源回路的統(tǒng)計中以此為限界值,所以可以認(rèn)為半衰期就是壽命時間。通常條件下,半衰期為5萬~10萬小時,但所有的光電耦合器都具有如圖8所示的壽命值,因而在進(jìn)行壽命評估之前最好確認(rèn)一次。
5.3 風(fēng)扇
風(fēng)扇的壽命受軸承及球形軸承的磨損程度影響。軸承部分因旋轉(zhuǎn)而發(fā)熱,風(fēng)扇自身雖能進(jìn)行一定程度的冷卻,但不能從根本上解決發(fā)熱問題。測出軸承部位的升溫值,升溫值越小,質(zhì)量越好,由此來選擇合適的制造商。
圖6(左上圖)保存溫度對CTR的徑時變化
圖7(右上圖)動作試驗與CTR的徑時變化
軸承部位的潤滑油干枯及軸承的磨損導(dǎo)致轉(zhuǎn)數(shù)下降,噪音增大,加快了壽命的終結(jié)。關(guān)于轉(zhuǎn)數(shù)的減少,各制造商的標(biāo)準(zhǔn)不盡相同,但一般以起始值的3~5%為上限。壽命隨著溫度的上升而縮短。普通的DC無刷電動機在40℃的環(huán)境下,壽命約為40,000小時,廉價的金屬軸承風(fēng)扇約為10,000小時。圖9標(biāo)出了風(fēng)扇的壽命的特性值。另外,DC風(fēng)扇的壽命還受內(nèi)臟部分——電動機驅(qū)動回路影響。風(fēng)扇中經(jīng)常會用到鋁電解電容器,因此有必要將電容器拆開檢查(鋁電解是105℃部件吧)。
P9
5.4 半導(dǎo)體
① 壽命性能
阿列里烏斯反應(yīng)速度公式同樣適用于半導(dǎo)體的壽命。根據(jù)上面提到過的(4)式,壽命L與溫度T之間有如下關(guān)系:
A:常數(shù)
E0:活性化能量
k:玻耳茲曼常數(shù)
活性化能量由故障的構(gòu)成決定,取表2中的特殊值。
表2 活性化能量
故障的構(gòu)成 |
活性化能量 |
氧化膜缺陷
離子性偏移
長時常數(shù)陷阱
電致徒動斷路
金屬腐蝕
金屬間化合物生成 |
0.3~0.4eV
0.7~1.3eV
1.0eV
0.6~1.0eV
0.5~0.7eV
0.5~0.7eV |
圖10表示了將Tj=125℃時的壽命設(shè)為1之后,相對壽命與溫度之間的關(guān)系,大致反映了半導(dǎo)體的壽命對溫度的依賴性。
② 功率循環(huán)
功率晶體管、功率二極管等元件會隨著能量通斷造成的溫度循環(huán)而發(fā)生熱疲勞。設(shè)計時,應(yīng)考慮到這種熱疲勞的影響,并對照芯片與縫隙、封膜之間的線性膨脹系數(shù),采用特殊金屬來連接芯片與裂縫,以減輕熱膨脹帶來的機械性變形。用功率循環(huán)來表示壽命,一般有10,000次以上。從電源的期望壽命來看,需要保持循環(huán)5,000次以上。
P10
5.5 電阻器
電阻的穩(wěn)定性高,故障率為1FIT以下,壽命極長,所以平時使用時無需特別留意。然而,因為電阻值會發(fā)生變化,如果要求高精度的電阻值,則需要特別注意。用在電源中的誤差放大器、分瓣電阻及標(biāo)準(zhǔn)電壓中使用的電阻等就是用來保證電阻精確度的。圖11舉出了電阻器的電阻經(jīng)時變化情況。
沖擊電流防護(hù)回路中使用的像電阻器一樣帶有浪涌電力的元件,會因為開·關(guān)的循環(huán)而發(fā)生熱疲勞,導(dǎo)致斷路。浪涌電力、持續(xù)時間和循環(huán)次數(shù)成以下關(guān)系。
帶負(fù)荷的衰減波形的耐浪涌特性如圖13所示。將最大的第一波形的峰值電壓(Vp)代入(7)式,可得Vrms,再代入(8)式,可求得額定電力倍數(shù)。這兩個數(shù)值和衰減時間常數(shù)r都適用于圖13。該曲線的內(nèi)側(cè)為安全地帶。使用普通的鎳鉻線(耐浪涌)時,約可承受30,000次浪涌。
(7)
(8)
R:電阻值 ,W:額定功率
時間常數(shù)是當(dāng)衰減波形的實效值降至第一波形的0.368倍時的時間值,所以其數(shù)值一般從電阻值上的波形照片中獲得。
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5.6 熱敏功率電阻器
① 壽命性能
作為沖擊電流防護(hù)回路的部件,使用在較小容量(不超過70W)的電源中。電源接入時,電流達(dá)到最大值,熱敏電阻隨著溫度的上升,電阻值降低。通常溫度會上升至70~90℃,雖然熱敏電阻采用的是耐熱材料,但熱疲勞仍然會影響其壽命。制造商方面的壽命規(guī)格:當(dāng)通過最大允許電流時,斷續(xù)負(fù)荷的壽命為10,000次循環(huán)。然而,熱敏電阻器在用來防護(hù)沖擊電流時,電源通入后,電阻上通過的電流會達(dá)到最大允許電流的10~20倍,所以功率循環(huán)的耐用期也會縮短。
② 壽命判定
電阻值隨時間的推移而發(fā)生變化,其變化率超過規(guī)定值時,壽命即告終止。熱敏功率電阻在用來防護(hù)沖擊電流時,電阻值會逐漸變大。表3列出了熱敏電阻壽命性能規(guī)格。
表3 熱敏功率電阻器的壽命性能
項目 |
規(guī)格 |
條件 |
斷續(xù)負(fù)荷壽命 |
電阻變化率±10% |
常溫常濕,外加最大允許電流1,000小時,反復(fù)進(jìn)行1分鐘ON—5分鐘OFF的循環(huán) |
連續(xù)負(fù)荷壽命 |
電阻變化率±10% |
常溫常濕,連續(xù)外加最大允許電流1,000小時。
其后放置25℃環(huán)境中1小時,再進(jìn)行檢測 |
潮濕放置 |
電阻變化率±10% |
環(huán)境溫度40±3℃,相對濕度90~95%,放置1,000小時。其后放置25℃環(huán)境中1小時,再進(jìn)行檢測 |
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5.7 塑膜電容器
薄膜電容器的故障類型分為開路、絕緣電阻下降和短路。量變過程表現(xiàn)為電介質(zhì)損失的增加(tanδ增大)及靜電容量的減少。
一般來說,薄膜電容器的劣化會受外加電壓及溫度影響而加速,電壓加速和溫度加速的情況分別適用于5~7倍相乘法和10℃翻倍法。
由下式推算壽命L:
(9)
注: L0:溫度T0、電壓V0時的壽命
V:實際外加電壓
T: 使用環(huán)境溫度
n: 5~7
Q: 10℃
電容器制造商通過加速壽命測試獲得壽命數(shù)據(jù),從而確定壽命規(guī)格。例如,在溫度為85℃,外加電壓為額定值的1.25倍的條件下,保證壽命在1,000小時以上。按實際使用情況來推算壽命時長,可將上面的保證壽命值代入(9)式中求出。如果充分考慮電壓和溫度折損值,則算出的壽命極為漫長(1,000萬小時),不過這種低應(yīng)力條件下的壽命推算并沒有什么實際意義,對選擇制造商也毫無裨益。
5.8 陶瓷電容器
陶瓷電容器的劣化形式主要為靜電容量減少。外加電壓和溫度會加快劣化進(jìn)程,其影響效果分別適用于3倍法和20℃翻倍法。電容率高的材料,靜電容量的減少更為明顯。有些高電容率的材料,在使用1,000小時后,容量變化高達(dá)20%。
推算壽命L通過壽命性能用(9)式求出。但,
L0:外加電壓V0、溫度T0時的壽命
V:實際外加電壓
n:3,Q:20℃
陶瓷電容器和薄膜電容器一樣,通過加速壽命測試取得的數(shù)據(jù)來確定壽命規(guī)格,即以保證值為依據(jù),由(9)式求得壽命規(guī)格。
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5.9 繼電器、開關(guān)
繼電器和開關(guān)的壽命分兩種:一為機械壽命,一為電壽命。前者由機械部件的磨損程度決定,包括開關(guān)靈活性下降、繼電器工作時間和復(fù)位時間延長等現(xiàn)象。后者主要受絕緣電阻和接點的接觸電阻增大的影響。以上幾種劣化形式中,最需要引起注意的是電感負(fù)載的浪涌電壓引發(fā)的接點電弧現(xiàn)象,以及沖擊電流引發(fā)的接點劣化問題。一般來說,開關(guān)電壓和電流越大,接點壽命越短。功率因數(shù)越小,壽命越短。圖14表示了繼電器的壽命性能。
雖然制造商提供的數(shù)據(jù)并非全然無用,但因為負(fù)載狀態(tài)對壽命性能影響極大,所以最好在回路實際工作條件下進(jìn)行測試。圖15、圖16是繼電器的壽命測試數(shù)據(jù),圖17、圖18是開關(guān)的測試數(shù)據(jù)。
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5.10 印制底板的焊接
① 壽命性能
單面印制底板造價低,應(yīng)用廣泛,缺點是機械性能差,制作上限制很多。而且,單面底板的焊接穩(wěn)定性和壽命性能均不如雙面通孔印制底板,所以壽命評估尤顯重要。圖19是焊接模型。
焊接的劣化分以下三種類型:
a. 導(dǎo)線的張力負(fù)載導(dǎo)致導(dǎo)線的接合面松動及銅箔連接部分剝落。
b. 動態(tài)負(fù)載引起的焊接與導(dǎo)線部分的松動。動態(tài)負(fù)載是穩(wěn)定振蕩的負(fù)載。
c. 靜態(tài)負(fù)載引起的焊接蠕變。靜態(tài)負(fù)載就是固定的負(fù)載。蠕變是指靜態(tài)負(fù)載長期積壓,導(dǎo)致焊接內(nèi)部發(fā)生的永久性變形。
② 動態(tài)負(fù)載
① 中的a、b 兩種類型是焊接變形受負(fù)載影響,超過彈性界限而引發(fā)的故障。這一過程會受溫度循環(huán)的影響而加快。圖20舉出了動態(tài)負(fù)載造成次品發(fā)生的例子。如本圖所示,將雙接頭部件的導(dǎo)線焊至接合區(qū),重復(fù)100℃(8小時)、常溫25℃(16小時)的循環(huán),每循環(huán)5次后,于常溫中進(jìn)行1小時的振動測試,使焊接部分接受動態(tài)負(fù)載。次品率是指在反復(fù)進(jìn)行這種循環(huán)處理30次后,單面接合區(qū)的焊接和導(dǎo)線部分發(fā)生接觸不良的比率。
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③ 靜態(tài)負(fù)載
金屬材料及塑料材料承受負(fù)載時,會發(fā)生變形。這種變形即使未超出彈性界限,也可能會引發(fā)永久性變形。如圖19所示,在焊接印制底板時,變形一般發(fā)生在孔與導(dǎo)線的中部。
圖21是針對印制底板進(jìn)行的焊接蠕變模型試驗的結(jié)果(見P70)。試樣采用單面接合區(qū),接合區(qū)徑2.5mm, 孔徑0.8mm,導(dǎo)線徑0.5mm,加上焊面承受的張力負(fù)載,測出各種溫度下蠕變量達(dá)到0.5mm所需的時間。
由此可以看出,焊接印制板時,如果一根導(dǎo)線上加載的部件重量超過了10g,則對產(chǎn)品的耐用性及穩(wěn)定性都會產(chǎn)生不良影響。
④ 蠕變允許應(yīng)力
如圖19所示,設(shè)焊接中的蠕變發(fā)生面的面積為Sc,靜態(tài)負(fù)載為W,則蠕變應(yīng)力為:
F = W / Sc
在單面印制底板中,蠕變應(yīng)力最好保持在20~30g/m㎡以下。雙面通孔底板中,使用同樣大小的接合區(qū),應(yīng)力值與單面印制底板相比只有其1/4~1/5大小,所以從提高產(chǎn)品耐用性的角度來說,采用雙面底板好處頗多。
以上就電源裝置的壽命進(jìn)行了一番說明,然而話說回來,即使是發(fā)生了故障,也要保證將故障類型控制在安全的范圍內(nèi),所謂安全第一,這點在設(shè)計時必須要考慮到。
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按照慣例,如無特殊情況,折損率一般定為80%以下。這一數(shù)值含有10%的多余空間和10%的測定誤差。如果測定樣品數(shù)量充分,評估時能將測定誤差考慮進(jìn)去,則無需受此限制。再者,如增設(shè)保護(hù)元件,例如晶體管連接器、外加在發(fā)射極之間的雪崩二極管等,此時可以提高折損率。
表1 部件的折損率標(biāo)準(zhǔn)
半導(dǎo)體 |
電壓 |
穩(wěn)定時間 最大額定值的85%以下
過渡時間 最大額定值的90%以下 |
功率 |
最大額定值的80%以下 |
連續(xù)溫度 |
最大額定值的80% |
電流 |
最大額定值的80% |
光電耦合器 |
CTR(電流傳達(dá)率)50%保證回路工作
If(順電流) 50%以下 |
|
功率 |
50%以下 |
印制底板 |
|
105℃以下 |
變壓器類 |
溫度 |
A種 100℃以下
E種 115℃以下 |
開關(guān)、繼電器 |
電壓、電流 |
最大額定值的100% 以下 |
電容器 |
電壓 |
90% 以下 |
紋波電流 |
80% 以下 |
溫度 |
80% 以下
|
連接器 |
|
最大額定值的100% 以下 |
保險絲 |
電壓、電流 |
額定電流的70%以下 |
導(dǎo)線 |
電流、溫度 |
額定電流、溫度的100%以下 |