離子探針的展望

離子探針的展望

離子探針作為一個(gè)具有分析微量元素的高靈敏度的微區(qū)分析方法正在迅速發(fā)展。但是，由于二次離子濺射機(jī)理較為復(fù)雜，定量分析仍存在許多問(wèn)題。今后發(fā)展和改進(jìn)的主要方向是：
　　1、提高質(zhì)譜分辨率，以減少和排除二次離子質(zhì)譜干擾；
　　2、實(shí)現(xiàn)多種質(zhì)譜粒子探測(cè)，以獲得樣品和多種粒子的信息和資料；
　　3、定量分析和離子濺射機(jī)理 的研究；
　　4、新型液態(tài)金屬離子源的應(yīng)用；
　　5、離子探針與多種儀器（如X射線光電子能譜、紫外光電子能譜、俄歇電子能譜）聯(lián)用等。